Park FX40 納米科學(xué)研發(fā)界的新星 全自動(dòng)原子力顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介

Park FX40全自動(dòng)原子力顯微鏡（AFM）是一款專(zhuān)注于納米科學(xué)研究的精密設(shè)備，通過(guò)智能自動(dòng)化與高精度技術(shù)，為材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生命科學(xué)等領(lǐng)域的研究者提供高效支持。作為Park Systems的核心產(chǎn)品之一，F(xiàn)X40結(jié)合先進(jìn)的硬件設(shè)計(jì)與智能化軟件系統(tǒng)，簡(jiǎn)化了從探針更換、激光校準(zhǔn)到高清成像的全流程操作，從選探針到放置再到全自動(dòng)掃描樣品，只需輕松一鍵。

儀器特點(diǎn)

1. 全流程自動(dòng)化操作

l                      自動(dòng)探針管理：配備8針盒磁控?fù)Q針系統(tǒng)，支持探針類(lèi)型自動(dòng)識(shí)別與更換，減少人為操作干擾；

l                      智能激光校準(zhǔn)：該功能將激光精確定位到懸臂梁的合適位置并進(jìn)一步分別優(yōu)化PSPD的垂直及橫向位置。您只需簡(jiǎn)單點(diǎn)擊，移動(dòng)下X,Y和Z軸便可得到不失真的高清掃描圖。

l                      簡(jiǎn)化操作流程：Park SmartScan軟件支持預(yù)設(shè)參數(shù)，自動(dòng)完成掃描區(qū)域定位與高清成像。

2. 高精度掃描技術(shù)

l                      平直正交XY軸掃描：采用串?dāng)_消除技術(shù)，減少掃描器弓形彎曲，支持樣品表面平直掃描；

l                      獨(dú)立Z軸掃描器設(shè)計(jì)：結(jié)合低噪聲探測(cè)器（0.02 nm噪聲帶寬），實(shí)現(xiàn)納米級(jí)形貌測(cè)量；

l                      非接觸掃描模式：True Non-Contact™模式避免針尖與樣品接觸，適用于軟性樣品分析。

3. 多功能與拓展性

l                      多模式兼容：支持接觸模式、輕敲模式、磁力顯微鏡（MFM）、導(dǎo)電原子力顯微鏡（C-AFM）等模式，滿(mǎn)足電學(xué)、力學(xué)等分析需求；

l                      環(huán)境監(jiān)測(cè)功能：內(nèi)置傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫度、濕度及振動(dòng)，輔助優(yōu)化實(shí)驗(yàn)條件；

4. 用戶(hù)友好設(shè)計(jì)

l                      雙攝像頭系統(tǒng)：樣品與探針攝像頭協(xié)同定位，提升操作便捷性；

l                      直觀(guān)軟件界面：Park SmartScanTM提供三步操作流程（預(yù)設(shè)、定位、成像），降低使用門(mén)檻；

儀器應(yīng)用

Park FX40憑借其技術(shù)特性，可服務(wù)于多個(gè)科研與工業(yè)領(lǐng)域：

1.       材料科學(xué)

2.       半導(dǎo)體與電子器件

3.       生命科學(xué)

4.       能源與催化

選擇Park FX40的優(yōu)勢(shì)？

l                      操作便捷：簡(jiǎn)化傳統(tǒng)AFM的多步流程，提升實(shí)驗(yàn)效率；

l                      數(shù)據(jù)可靠性：低噪聲探測(cè)與平直掃描技術(shù)支持高精度測(cè)量；

l                      設(shè)計(jì)耐用性：非接觸模式可減少探針損耗；

茂默科學(xué)力求解決行業(yè)內(nèi)客戶(hù)對(duì)科學(xué)儀器選型難、維護(hù)難的處境。欲了解更多Park的產(chǎn)品，Welcome to consult~咨詢(xún)有驚喜哦！